7.標準品及檢量線製備
7.1 精稱結晶型二氧化矽標準品，充分磨勻後加入氫氧化鎂，使樣
品總重量達 1.0 g。
o o o
7.2 充份混合均勻後以 XRD 分析，掃描範圍：15-40，每 0.02
讀取一次數據；掃瞄模式：2θ／θ。
7.3 檢量線製備：配製至少 5 種不同濃度標準品，範圍為 0.1%-
10％，線性相關係數（r） 應大於或等於 0.995。
7.4 檢量線查核：每 20 個樣品及每批次分析結束時，以檢量線查
核標準樣品進行檢量線查核，檢量線查核標準品分析結果之相
對誤差值應在 ±20％以內。